방사선투과시험 (X-Ray)
판독사진
XRD
주사 전자 현미경(SEM&EDS)
형광침투검사(FPI)
블리스크 결함사진 블랙라이트
금속 현미경
성분분석기
대표 측정장비 설비목록
X-Ray 발생장치 |
시험체에X선의 방사선을 투과시켜 촬영하여 제품 내부의 결함 검사 제원 : 320Kvp, 450Kvp / 보유수량 : 1대, 2대 |
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XRD |
X선 회절검사를 통한 제품 내부의 결함 검사 제원 : 50KV/40MA / 보유수량 : 1대 |
금속현미경 |
현미경을 통한 금속 내부의 결함 검사 제원 : 저배율(2.2~20배), 고배율(50~500배) / 보유수량 : 1대 |
형광침투검사Line |
형광침투제를 이용하여 제품의 표면 결함 검사 제원 : MAGNAFLUX / 보유수량 : 1대 |
자분탐상기 |
자장을 이용하여 표면이나 표면 하 결함 검사 제원 : MY-2 / 보유수량 : 1대 |
주사현미경 |
주사전자현미경을 통한 제품 표면에 결함 검사 제원 : MAX30만배 / 보유수량 : 2대 |
성분분석기 |
재료를 빛으로 태워 스펙트럼을 분석해 성분을 검사 제원 : 건식 / 보유수량 : 2대 |